Predicting within-field soybean yield variability by coupling Sentinel-2 leaf area index with a crop growth model.

ABSTRACT: Accurate within-field yield estimation is an essential step to conduct yield gap analysis and steer crop management towards more efficient use of resources. This study aims to develop and validate a process-based soybean model and to predict within-field yield variability by coupling leaf...

Mô tả đầy đủ

Chi tiết về thư mục

Tác giả chính:	GASO, D. (author)
Tác giả khác:	DE WIT, A. (author), BERGER, A. (author), KOOISTRA, L. (author)
Định dạng:	article
Ngôn ngữ:	Tiếng Anh
Được phát hành:	2021
Những chủ đề:	Yield prediction Crop growth model Sentinel-2 Data assimilation Soybean Soja
Truy cập trực tuyến:	https://ainfo.inia.uy/consulta/busca?b=pc&id=62331&biblioteca=vazio&busca=62331&qFacets=62331
Các nhãn:	Thêm thẻ Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!