Predicting within-field soybean yield variability by coupling Sentinel-2 leaf area index with a crop growth model.

ABSTRACT: Accurate within-field yield estimation is an essential step to conduct yield gap analysis and steer crop management towards more efficient use of resources. This study aims to develop and validate a process-based soybean model and to predict within-field yield variability by coupling leaf...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: GASO, D. (author)
مؤلفون آخرون: DE WIT, A. (author), BERGER, A. (author), KOOISTRA, L. (author)
التنسيق: article
اللغة:الإنجليزية
منشور في: 2021
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://ainfo.inia.uy/consulta/busca?b=pc&id=62331&biblioteca=vazio&busca=62331&qFacets=62331
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

مواد مشابهة: Predicting within-field soybean yield variability by coupling Sentinel-2 leaf area index with a crop growth model.