Characterization of shallow groundwater in Eocene sediments of Panama Canal Watershed using electrical techniques

This work is focused on the detection of seepages caused by the affluent located in a small area of the Panama Canal Basin during the dry season, and to define the subsurface stratigraphy (Eocene sediments) that characterize this area through a geophysical survey. Two electrical resistivity tomograp...

Ամբողջական նկարագրություն

Մատենագիտական մանրամասներ

Հիմնական հեղինակ:	Díaz, Irving (author)
Այլ հեղինակներ:	Mojica Ábrego, Alexis (author), Ho, Carlos (author), Pinzón, Reinhardt (author), Fábrega, José (author), Vallester, Erick (author), Vega, David (author), Ogden, Fred (author), Hendrickx, Jan (author)
Ձևաչափ:	article
Լեզու:	իսպաներեն
Հրապարակվել է:	2012
Խորագրեր:	Apparent resistivity,electrical resistivity tomography,forward problem, Gamboa zone, inverse data, Panama Canal watershed, synthetic data
Առցանց հասանելիություն:	http://revistas.utp.ac.pa/index.php/id-tecnologico/article/view/97 http://ridda2.utp.ac.pa/handle/123456789/1738
Ցուցիչներ:	Ավելացրեք ցուցիչ Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!